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梅特勒托利多分析天平 XPR36

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產(chǎn)品介紹

分析天平 XPR36

微量樣品一步加樣

憑借卓越的稱量傳感器、較高的量程和出色的穩(wěn)定性，只需一步即可將微量樣品直接加入去皮重容器中。

一次即準的稱量結(jié)果

通過整合StatusLight?、LevelControl與GWP Approved協(xié)同工作，確保獲得的稱量結(jié)果準確無誤且經(jīng)過審核驗證。

利用StaticDetect?避免隱藏錯誤

當在樣品和容器上檢測到靜電荷時，將發(fā)出警告?？蛇x的去靜電裝置能在數(shù)秒內(nèi)自動消除電荷。

規(guī)格 - 分析天平 XPR36

最大秤量	32 g
重復(fù)性（典型）	0.0007 mg
穩(wěn)定時間	3.5 s
校正	內(nèi)部（自動化/FACT）
接口	USB-B（連接至設(shè)備） RS232（集成式/選件） USB-A（連接至設(shè)備）藍牙（選件）以太網(wǎng) (LAN)
用戶管理	密碼保護用戶權(quán)限用戶數(shù)量不受限制
符合貿(mào)易結(jié)算	否
重復(fù)性	1.5 μg
線性±	0.012 mg
文檔選項	打印基本電子文檔自動文檔記錄（符合21 CFR第11部分的規(guī)定）
有價值的樣品	是的
合規(guī)性選項	數(shù)據(jù)完整性日志歷史（符合21 CFR第11部分的規(guī)定）密碼保護日志歷史（基本元數(shù)據(jù)）
自動靜電偵測	適用
保證重復(fù)性	1.5 μg
天平系列	XPR
天平型號	微量天平
價格	$$$
微量天平型	微量分析天平
系列	超越系列
符合21 CFR第11部分的稱量規(guī)定	適用