當(dāng)您在運(yùn)用基于掃描電鏡的拉伸/加熱裝置來實(shí)現(xiàn)材料原位表征時(shí)：
- 是否經(jīng)常在不同電腦上操作電鏡，設(shè)置原位臺參數(shù)，以及控制EDS/EBSD探測器等一系列工作中疲于奔命？
- 同時(shí)又因?yàn)檫@些裝置協(xié)作不好而難以獲得有效的數(shù)據(jù)？
- 還因?yàn)楦黜?xiàng)數(shù)據(jù)分散、凌亂，無法快速對它們進(jìn)行系統(tǒng)性的管理與分析？
現(xiàn)在，蔡司掃描電鏡原位實(shí)驗(yàn)平臺將使您從復(fù)雜、艱難且可靠性低的原位測試實(shí)驗(yàn)中徹底解放出來?？靵砑尤氡敬螘h，了解更多有關(guān)蔡司全自動(dòng)原位拉伸/加熱解決方案的詳細(xì)信息！
參與本次會議您將能夠了解：
? 新開發(fā)的集成化軟硬件系統(tǒng)；
? 無人值守的自動(dòng)化原位實(shí)驗(yàn)工作流程，智能的操作系統(tǒng)允許您定義多個(gè)感興趣區(qū)域（ROI），且在整個(gè)自動(dòng)化的實(shí)驗(yàn)過程中始終保持獲得每個(gè)ROI的原位數(shù)據(jù)；
? 先進(jìn)的數(shù)字圖像關(guān)聯(lián)技術(shù)（DIC）和分析；
? 高重復(fù)性，高精度，高可靠性的數(shù)據(jù)獲取，和便捷的數(shù)據(jù)管理。
時(shí)間: 2022年3月22日 星期二 14：00-15：00
語言：中文
主講人：蔡司顯微鏡資深應(yīng)用專家 高迪
碩士畢業(yè)于北京工業(yè)大學(xué)，2017年至今在蔡司顯微鏡部擔(dān)任應(yīng)用技術(shù)專家。在電子顯微學(xué)及微納加工等相關(guān)領(lǐng)域有多年工作和學(xué)習(xí)經(jīng)驗(yàn)，為國內(nèi)近百余客戶進(jìn)行了應(yīng)用培訓(xùn)和成像演示工作，協(xié)助用戶解決SEM及FIB的應(yīng)用問題。熟悉SEM和FIB在材料科學(xué)、化學(xué)物理、半導(dǎo)體科學(xué)等領(lǐng)域的應(yīng)用。
掃描二維碼報(bào)名參會：
