GB/T 17722-1999
金屬蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法
Gold-plated thickness measurement by SEM
GBT17722-1999, GB17722-1999
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- GB/T 17722-1999
- 別名
- GBT17722-1999, GB17722-1999
- 發(fā)布
- 1999年
- 總頁數(shù)
- 7頁
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 當(dāng)前最新
- GB/T 17722-1999
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 16594-1996 GB/T 17362-1998 GB/T 17363-1998
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了各類金制品的金覆蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法的技術(shù)要求，本標(biāo)準(zhǔn)也適用于電子探針儀測(cè)量金覆蓋層厚度，適用的厚度測(cè)量范圍為0.2～10μm。 其他金屬材料的覆蓋層厚度的測(cè)量也可參照?qǐng)?zhí)行。
GB/T 17722-1999 中提到的儀器設(shè)備
| 掃描電鏡 二次電子像分辨力優(yōu)于 10 nm,背散射電子像分辨力優(yōu)于 20 nm | 用于觀察和分析金覆蓋層結(jié)構(gòu)及厚度 |
| 微米級(jí)長度標(biāo)準(zhǔn)器 經(jīng)法定計(jì)量機(jī)構(gòu)標(biāo)定，最小刻度標(biāo)稱值應(yīng)小于2μm | 用于校準(zhǔn)測(cè)量設(shè)備的精度 |
其他標(biāo)準(zhǔn)
專題
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