X射線能譜儀(EDS) 例如:Oxford INCA EBF | 與SEM結(jié)合使用,檢測樣品發(fā)出的特征X射線以確定元素種類及其含量。 |
掃描電子顯微鏡(SEM) 例如:Zeiss Sigma 300 | 用于觀察樣品表面形貌,并配備能譜儀進行成分分析。 |
為了合理利用具有經(jīng)濟價值的各不同類別花崗石并提高其加工效果,必須采用各種檢測方法盡量了解其礦相組成和相組織狀態(tài)。本文通過剖析實例,闡明利用掃描電鏡與X射線能譜儀相結(jié)合的方法對花崗石進行礦相顯微分析是可行而有效的,所獲信息為花崗石的評價、利用和加工提供了科學(xué)依據(jù)...
利用環(huán)境掃描電鏡-X射線能譜儀(environmental scanning electron microscope and energydispersive X-ray microanalyser,ESEM-EDX)研究電流斑微觀形態(tài)特征及元素構(gòu)成,以期為電流斑及電擊死的鑒定提供更準確、客觀的依據(jù)...
掃描電鏡在國外已被廣泛用于礦物分析研究工作。我國地學(xué)界在七十年代初引進掃描電鏡,國產(chǎn)掃描電鏡從1975年開始批量生產(chǎn)。目前,掃描電鏡可以清晰觀察粒徑為微米級的礦物(最小可至1微米),同時可以迅速分析出礦物的主要化學(xué)元素組分。近幾年來,我們用配接有TN-5400型X射線能譜儀的KAD-1000B型...
用 X射線能譜儀對一系列硯石樣品進行成分分析得知硯石主要含鋁、硅、鈣、鐵、鉀等元素 ,為硯石的成因研究打下基礎(chǔ) ,指出硯石成因研究有助于某些地球課題的深化...
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