【內容簡介】
原子力顯微鏡(AFM)被廣泛用于科研和工業(yè)界各領域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，細胞表面形態(tài)觀察，生物大分子的結構及性質，生物傳感器，分子自組裝結構等領域的監(jiān)測等各類科研和生產工作。本次講座我們將重點介紹采用Bruker NanoScope Analysis離線處理軟件對所獲取的 AFM圖像進行后期處理以及數據分析。
本次講座的內容主要包括： 1、介紹NanoScope Analysis軟件中圖像處理類功能的原理以及使用方法，包括Flatten, Erase, Plane Fit, Lowpass等。 2、介紹NanoScope Analysis軟件中數據分析類的功能，包括Section, Roughness, Step, Particle Analysis等。
【主講人簡介】
殷 豪，1981年出生，男，博士，布魯克高級技術支持工程師，客戶培訓講師。2010年畢業(yè)于中國科學院上海技術物理研究所，獲得理學博士學位。博士期間主 要從事基于原子力顯微鏡(AFM)的III-V族半導體納米電子學研究;畢業(yè)后主要從事AFM相關的軟硬件技術支持，以及售后應用支持;具有長達9年的 AFM技術經驗。
【合作伙伴】
質譜 顯微形貌 熱性能分析 電性能分析 物理性能
【內容簡介】 原子力顯微鏡(AFM)被廣泛用于科研和工業(yè)界各領域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，細胞表面形態(tài)觀察，生物大分子的 ......
該講座重點介紹原子力顯微鏡各種成像模式的參數設定及其對成像質量的影響，重點講解Tapping模式和PeakForce Tapping模式的力控制以及高分辨成 ......
新型二維材料自2004年石墨烯被發(fā)現以來，探尋其他新型二維晶體材料一直是二維材料研究領域的前沿。正如石墨烯一樣，大尺寸高質量的其他二維晶體不僅對于探索二維極 ......
【內容簡介】 原子力顯微鏡(AFM)被廣泛用于科研和工業(yè)界各領域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，細胞表面形態(tài)觀察，生物大分子的 ......
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